Serviços Analíticos

Dentre as diversas técnicas de caracterização de materiais, a difração de raios-X (DRX) associada à fluorescência de raios-X (FRX) são as técnicas básicas mais indicadas para a caracteriazação físico-química de materais minerais e inorgânicos e, portanto, são as técnicas mais ágeis para atender às necessidade industriais em análise qualitativa, semi-quantitativa e quantitativa de elementos químicos e de fases ou compostos cristalinos.

Quando necessário, o e-Diffraction Mineral e Inorganic emprega outras técnicas para caracterização de materiais como, por exemplo, a Calorimetria Exploratória Diferencial (DSC) e a Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV)

Técnicas de Análise

Análise por difração de Raios-X

Análise por difração de Raios-X

A identificação das fases e do grau de cristalinidade da amostra é realizada mediante técnica de difratometria de raios-X (DRX). As fases presentes são identificadas com base na comparação de um perfil desconhecido com o conjunto de difração padrão coletado e mantido por um banco de dados cristalográfico.

Análise pelo método de Rietveld

Análise pelo método de Rietveld

O método de Rietveld baseia-se no cálculo de um difratograma a partir de dados estruturais da amostra e no seu posterior ajuste a um difratograma experimental. Os difratogramas, experimental e calculado, de cada fase da amostra passam a estar relacionados por um fator de escala que possibilita o cálculo do seu teor relativo na mistura.
A realização da análise quantitativa pelo método de Rietveld depende do estudo de viabilidade baseado na análise qualitativa, contudo, outros métodos podem ser desenvolvidos e aplicados para casos específicos.

Análise por fluorescência de raios-X

Análise por fluorescência de raios-X

A fluorescência de raios X é uma poderosa técnica não destrutiva que permite não só uma análise qualitativa (identificação dos  elementos presentes numa amostra) mas também quantitativa, permitindo estabelecer a proporção em que cada elemento se encontra presente na amostra.

Microscopia Eletrônica de Varredura

Microscopia Eletrônica de Varredura

O microscópio eletrônico de varredura (MEV) é um equipamento capaz de produzir imagens de alta ampliação (até 300.000 x) e resolução na escala nano. Esta técnica permite produzir imagens tridimensionais da estrutura superficial da amostra, possibilitando observações em alta resolução de sua superfície e visualização da morfologia do cristal. A microscopia é uma técnica importante para a caracterização de polimorfos, pois permite observar a forma cristalina de uma substância identificando o tamanho e a forma dos cristais.